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总介绍

有为图像技术（苏州）有限公司坐落于苏州工业园区，专注于半导体检测/量测设备的研发、设计、制造以及销售服务，是一家半导体工艺过程控制设备提供商。

Packaged /Advanced Packaged IC Inspection and Metrology

Dream系列

主要应用于半导体先进封装测试工艺过程中的“芯片”外观检测，适用于BGA、QFN、QFP、LGA、FCBGA等IC产品。
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Unpatterned and Patterned Wafer Inspection & Metrology

Sky系列

主要应用于晶圆级先进封装Bump、TSV、RDL等工艺检测，晶圆CP测试工艺检测，晶圆来料检测，晶圆切割工艺检测等晶圆外观检测。
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Advanced Inspection for Compound Semiconductor Materials & SiC & GaN Substrates Epi

Mountain系列

主要应用于化合物半导体衬底外延的缺陷检测，集成多通道光学检测技术，覆盖Scratch/Stain/Particle/Micro Pit/Micropipe/Triangle/Downfall/SF/Carrot等缺陷类型。
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Dream系列 Sky系列 Mountain系列

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有为图像技术(苏州)有限公司

邮箱: sales@yw-semi.com
地址: 江苏省苏州市工业园区联创产业园6号楼1/2F

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